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压敏电阻直流作用下的老化机理

直流作用下。反偏压侧的Zni向晶界迁移，中和了部分VZn，使表面受主态密度下降，势垒降低，阻性电流增大。直流电压作用下的老化不对称，是因为测试电压极性如与老化时加的电压一致，电压主要加在正极性侧的耗尽层上，而这一侧可迁移的填隙锌离子已不多；如极性相反，则电压主要加在另一侧的耗尽层上，而这侧有大量的填隙锌离子，所以阻性电流大。

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漏电流IL

漏电流(mA)也称等待电流，是指压敏电阻器在规定的温度和直流过压敏电阻器电流。IEC对漏电流 IL较为普遍的定义是：环境温度25℃时，在压敏电阻上施加其所属规格的连续直流工作电压UDC时，流过压敏电阻的直流电流。

一般而言，在材料配方和烧结工艺固定的情况下，漏电流适中的压敏电阻具有较好的安全性和较长的寿命。

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